PLC自問世以來，發(fā)展異常迅猛，其綜合了計算機和自動化技術，不僅可以很容易地完成邏輯、順序、定時、計數(shù)、數(shù)字運算、數(shù)據(jù)處理等功能，而且可以通過輸入輸出接口建立與各類生產(chǎn)機械數(shù)字量和模擬量的聯(lián)系，從而實現(xiàn)生產(chǎn)過程的自動控制。隨著PLC控制系統(tǒng)在工業(yè)生產(chǎn)過程中得到了越來越廣泛的應用，系統(tǒng)的安全可靠越來越受人們關注，基于PLC的工業(yè)控制系統(tǒng)測試成為亟待解決的問題。

1.基于PLC的工業(yè)控制系統(tǒng)特點

可編程邏輯控制器（Programmable Logic Controller，PLC），作為離散控制的首選產(chǎn)品，在自動化領域占據(jù)著十分重要的位置?；赑LC的工業(yè)控制系統(tǒng)由模仿原繼電器控制原理發(fā)展起來，利用存儲執(zhí)行邏輯運算、順序控制、定時、計數(shù)和運算等操作的指令，并通過輸入/輸出（I/O）發(fā)出控制信號和接受輸入信號，來控制各類機械或生產(chǎn)過程?；赑LC的工業(yè)控制系統(tǒng)與其他工業(yè)控制系統(tǒng)相比較，具有不可忽視的優(yōu)點：與繼電·接觸器控制系統(tǒng)的比較，PLC系統(tǒng)在靈活性和擴展性、可靠性和可維護性、控制速度和穩(wěn)定性、延時的可調性與精度、設計與施工、系統(tǒng)價格方面具有巨大優(yōu)勢，并代替繼電·接觸器控制廣泛應用于工業(yè)自動控制中；與計算機控制系統(tǒng)的比較：PLC系統(tǒng)的功能模塊結構、順序掃描方式工作、惡劣工業(yè)應用環(huán)境適應性方面都是工業(yè)用微機無法和PLC相比，但是，計算機在信息處理方面還是優(yōu)于PLC，所以，在一些工業(yè)控制系統(tǒng)中，常常將兩者結合起來，PLC作為下位機進行現(xiàn)場控制，計算機作為上位機進行信息處理；與集散控制系統(tǒng)（Distributed Coiitrol System，DCS）的比較：PLC在開關量控制和順序控制方面有一定的優(yōu)勢；而DCS在連續(xù)量的模擬控制和回路調節(jié)等方面有一定的優(yōu)勢；DCS具有控制（工程師站）、操作（操作員站）、現(xiàn)場儀表（現(xiàn)場測控站）三級結構，組態(tài)成相對固定的功能，而PLC則大多需要編程，但更靈活，可以實現(xiàn)大規(guī)模的控制系統(tǒng)網(wǎng)絡。

2.基于PLC的工業(yè)控制系統(tǒng)測試方法

為做好PLC系統(tǒng)的質量控制工作，軟件測試是工程實施階段質量控制的一種有效手段。基于PLC軟件的特殊性（非CPU指令代碼）和深嵌入式特點，其軟件測試環(huán)境很難搭建，對測試用例特別是異常測試用例的注入帶來了困難。目前主流的測試方法主要有三種：全數(shù)字仿真測試環(huán)境下的PLC軟件測試、硬件在回路環(huán)境下的PLC軟件測試、形式化驗證。

硬件在回路（HiL）測試技術包括實時處理器、I/O接口和操作界面，可以精確的仿真測試系統(tǒng)中物理上并不存在的部分。實時處理器提供硬件I/O通信、數(shù)據(jù)記錄、激勵生成和模型執(zhí)行等。I/O接口提供被測電子控制單元（ECU）與模型仿真的虛擬環(huán)境之間的傳感器和PLC控制器的交互。操作界面與實時處理器通信，提供測試命令、可視化、配置管理、分析和報告任務。HiL技術采用硬件故障插入在ECU和被測試系統(tǒng)之間產(chǎn)生信號故障，達到測試和驗證故障條件下設備性能的目的。

硬件在回路技術與PLC相結合，將PLC的電機信號、開關量信號等各種控制信號轉化成數(shù)學模型，與I/O接口模擬成為一個受控對象模型，將電壓、電流、電磁、浪涌脈沖等硬件激勵以及越界值、非法指令、樁程序段、靶子程序段等軟件故障作為測試序列加載到受控對象模型，實際輸出平均故障前時間MTBF、故障次數(shù)、故障率、可靠度等指標，通過類比系統(tǒng)實際輸出與期望輸出來驗證PLC控制器。PLC硬件在回路測試系統(tǒng)結構如圖所示。

圖1 硬件在回路測試系統(tǒng)結構

3.總結

硬件在回路環(huán)境下的PLC軟件測試可以實現(xiàn)對被測軟件非侵入式的、最真實的測試，通過硬件在回路仿真測試環(huán)境的構建，可以實現(xiàn)用戶關心的各種測試需求，如：功能、性能、接口等，特別是能實現(xiàn)真實的性能測試。不過，由于這種仿真環(huán)境多是針對特定被測目標開發(fā)，專用性很強，很難移植到其他同類被測軟件的測試環(huán)境搭建中，在一定程度上降低了測試資源的利用效率。