1.測(cè)試目的
本測(cè)試為客戶指定要求的產(chǎn)品驗(yàn)證測(cè)試，以確保產(chǎn)品的使用能滿足客戶的使用需求，并藉此提高公司產(chǎn)品可靠性。

2.測(cè)試項(xiàng)目

表 1 環(huán)境與結(jié)構(gòu)測(cè)試項(xiàng)目

3.判定標(biāo)準(zhǔn)

產(chǎn)品在測(cè)試前、中、后的檢查中需保證無(wú)下列狀況

A 可見(jiàn)的硬件損壞如：管腳斷裂、線路腐蝕、零件破損腐蝕、外殼變形破裂；

B 產(chǎn)品或零件電氣性能下降，超過(guò)容差范圍；

C 系統(tǒng)和被存儲(chǔ)或交換的應(yīng)用數(shù)據(jù)的非期望的修改；

D 產(chǎn)品指定需測(cè)試的的測(cè)試項(xiàng)目不符合規(guī)格，具體到本次測(cè)試為：CPU所有通訊以及IO錯(cuò)誤；測(cè)溫模塊、模擬量模塊輸入以及數(shù)字量模塊輸出量值不準(zhǔn)；各類指示燈顯示錯(cuò)誤、以及其他功能應(yīng)用錯(cuò)誤。

4.測(cè)試樣品

7.測(cè)試內(nèi)容：

1、PPI通訊：查看PC與CPU之間的通訊；

2、自由口通訊：監(jiān)控214-1BE與200cpu之間的通訊；

3、數(shù)字量輸入輸出：214-1BE的輸出Q0.0~Q1.1依次與本機(jī)輸入I0.0~Q1.1相連，剩余的I1.2~I1.5與222-1HF的Q0.4~Q0.7相連；222-1HF的Q0.0~Q0.3則與200cpu的I0.0~I0.3相連。所有數(shù)字量輸出交替輸出0 1，周期為1S，通過(guò)PC監(jiān)控所有相連的輸入輸出是否一致。

4、溫度模塊：231-7PC的四個(gè)輸入通道通過(guò)四線法分別接四個(gè)不同阻值的電阻，對(duì)應(yīng)關(guān)系為：A-100Ω、B-150Ω、C-220Ω、D-250Ω，通過(guò)PC監(jiān)控模塊的狀態(tài)表。

5、模擬量：231-0HC的每個(gè)輸入通道由實(shí)驗(yàn)箱外的232-0HB提供電壓，其中AC通道輸入1V、BD輸入10V，通過(guò)PC監(jiān)控每個(gè)通道的狀態(tài)值。

6、滿量程測(cè)試：所有實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)模塊均通過(guò)調(diào)壓器供電，調(diào)節(jié)輸入電壓在20.4~28.8V之間變化，查看模塊在全量程內(nèi)是否一直正常工作。

7、模擬定位器：每個(gè)測(cè)試周期內(nèi)用螺絲刀旋轉(zhuǎn)模擬定位器，查看SB28與SB29是否能在0~255間變化；

8、CPU電壓輸出：214-1BE的24V輸出端引出兩根導(dǎo)線，測(cè)試過(guò)程中通過(guò)萬(wàn)用表監(jiān)控是否一致穩(wěn)定輸出；

9、SF/DIAG/RUN/STOP指示燈：每隔１個(gè)小時(shí)通過(guò)程序設(shè)置這四個(gè)狀態(tài)，查看對(duì)應(yīng)的指示燈是否能正常顯示。

10、其他輸入輸出指示燈：在測(cè)量數(shù)字量的過(guò)程中監(jiān)控各個(gè)輸入輸出對(duì)應(yīng)的LED指示燈。

11、撥碼開關(guān)：在測(cè)試開始于結(jié)束時(shí)，波動(dòng)214-1BE的撥碼開關(guān)，查看RUN/STOP指示燈。

12、SDRAM、SRAM、EEPROM：在測(cè)試過(guò)程中使用程式監(jiān)控。

7.測(cè)試結(jié)果簡(jiǎn)敘

已測(cè)項(xiàng)目無(wú)失效。

8.測(cè)試順序

8.1.低溫運(yùn)行

8.2.溫度沖擊

9.測(cè)試照片