Kelvin探針大氣腐蝕電位分布測(cè)試系統(tǒng)的研究與開(kāi)發(fā)
作者:王佳
職務(wù):研究員
單位:中國(guó)科學(xué)院海洋研究所
單位:中國(guó)科學(xué)院海洋研究所
大氣腐蝕機(jī)理研究和大氣腐蝕檢測(cè)與監(jiān)測(cè)系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)
挑戰(zhàn):
采用NI公司的LabVIEW 6i,PCI-6052E數(shù)據(jù)采集卡和鎖定放大器,X-Y-Z三維掃描平臺(tái)等硬件裝置為金屬腐蝕與防護(hù)國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室研制國(guó)內(nèi)第一臺(tái)大氣腐蝕電位分布測(cè)試系統(tǒng)。
應(yīng)用方案:
使用NI公司PCI-6052E數(shù)據(jù)采集卡,Newport公司的UTMCC移動(dòng)平臺(tái)和ESP300控制器,PerkinElemer公司的7265鎖定放大器以及壓電陶瓷振動(dòng)器,密閉測(cè)試箱,溫度濕度控制裝置,放大攝像裝置等硬件,在LabVIEW 6i編制的ACSKP-SYS03系統(tǒng)軟件和ACSKP-MON03振動(dòng)檢測(cè)軟件控制下實(shí)現(xiàn)大氣環(huán)境中金屬腐蝕電位分布測(cè)量與監(jiān)測(cè)。
使用的產(chǎn)品:
1.NI LabVIEW 6i Full Development System and NI LabVIEW 6 Application Builder.
2.NI PCI-6052E: 333kS/s, Multifunction I/O, 16 inputs, 16Bits
介紹
Kelvin探頭方法測(cè)定大氣腐蝕電位是90年代初德國(guó)的Stratmann教授提出的新技術(shù)。由于它能夠不接觸腐蝕體系測(cè)定氣相環(huán)境中極薄液層下金屬的腐蝕電位,為大氣腐蝕研究提供了一種有力工具,受到了各國(guó)腐蝕科學(xué)家的廣泛關(guān)注。我國(guó)也展開(kāi)了有關(guān)研究,但一直未取得突破。我于90年代初在日本從事這項(xiàng)研究,解決了測(cè)量關(guān)鍵技術(shù),開(kāi)發(fā)了日本第一臺(tái)Kelvin探頭大氣腐蝕電位測(cè)定裝置。后來(lái)受澳大利亞科學(xué)院邀請(qǐng)為國(guó)研制了第一臺(tái)掃描Kelvin探頭大氣腐蝕電位分布測(cè)定裝置。最近受金屬腐蝕與防護(hù)國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室委托,采用PCI-6052E數(shù)據(jù)采集板和LabVIEW 6i平臺(tái)和其他硬件為該室研制成功我國(guó)第一臺(tái)ACSKP-03大氣腐蝕電位分布測(cè)定系統(tǒng)。該系統(tǒng)能夠測(cè)定大氣中金屬表面微小區(qū)域的電位分布, 是研究大氣腐蝕過(guò)程機(jī)理和評(píng)價(jià)防護(hù)措施性能的有力工具。
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