深圳膜厚儀/fischer膜厚儀/進(jìn)口膜厚儀
產(chǎn)品型號:
廠商性質(zhì):代理/分銷商
公司名稱:金東霖電子科技有限公司
地 址:深圳市寶安中心區(qū)創(chuàng)業(yè)一路宏發(fā)中心大廈
聯(lián) 系 人:吳靜
聯(lián)系電話:0755-29371651
fischer 公司有著60多年對膜層厚度、微硬度及物料測量的經(jīng)驗,HELMUT FISCHER公司不斷在基本原理上開發(fā)出創(chuàng)新的測量技術(shù)來解決一些新的檢測要求。為了不斷完善客戶的要求, fischer 公司推新立異,在測量膜厚方面,采用最新的FP數(shù)字計算方法,使測量數(shù)據(jù)更精確。
深圳膜厚儀/fischer膜厚儀/進(jìn)口膜厚儀在技術(shù)上一直以來都領(lǐng)先于全世界的測厚行業(yè),X-射線熒光鍍層厚度測量儀能夠測量包含原子序號17至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層(銀、金、鈀、錫等)和其它薄鍍層。
A:區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多4層及24種元素。
B :精確度領(lǐng)先于世界,精確到0.025mil
C :數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,以滿足您特定的分析報告格式要求,如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D :統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品;
E :可測量任一測量點,最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米
深圳膜厚儀/fischer膜厚儀/進(jìn)口膜厚儀主要應(yīng)用方面:
由于可測量的元素范圍拓闊至從鋁至鈾,X射線的應(yīng)用范圍從工業(yè)應(yīng)用伸展到科學(xué)應(yīng)用。它可應(yīng)用于治金學(xué)、地質(zhì)學(xué)、鑒證學(xué)或自然科學(xué)等,在工業(yè)方面,廣泛用于五金電鍍、電子半導(dǎo)體、PCB線路、首飾珠寶、衛(wèi)浴、汽配的成份分析和鍍層測量方面。
聯(lián)系人:吳小姐
電話:0755-29371651 ,13603036715
傳真:0755-29371653
地址:深圳市寶安中心區(qū)創(chuàng)業(yè)一路宏發(fā)中心大廈(金霖電子有限公司)
公司網(wǎng)址:www.kinglinhk.com