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X光機(jī)/無損金屬膜厚儀設(shè)備遵循ASTM B568，DIN ENISO 3497國際標(biāo)準(zhǔn)，主要基于WinFTM? V6L核心控制軟件的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。采用全新數(shù)學(xué)計(jì)算方法,采用最新的FP（Fundamental Parameter）、DCM (Distenco Controlled Measurement)及強(qiáng)大的電腦功能來進(jìn)行鍍層厚度的計(jì)算，在加強(qiáng)的軟件功能之下，簡化了測量比較復(fù)雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標(biāo)準(zhǔn)片之下，一樣精準(zhǔn)測量。

X光機(jī)/無損金屬膜厚儀主要特點(diǎn)
　　★搭載樣品尺寸的兼容性，能夠通過一臺(tái)儀器測量，從電子部件、電路板到機(jī)械部件等高度較高的樣品
　　★具有焦點(diǎn)距離切換功能，適用于有凹凸的機(jī)械部件與電路板的底部進(jìn)行測量
　　★彩色CCD攝像頭，通過CCD攝像機(jī)來觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測量，避免直接接觸或破壞被測物。
　　★鹵素?zé)粽彰?
　　　　
X光機(jī)/無損金屬膜厚儀的應(yīng)用領(lǐng)域：
　　1、分析電子部品電鍍層的厚度
　　2、各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析
3、各鍍層的成分比例分析。
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