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fischer 公司有著60多年對(duì)膜層厚度、微硬度及物料測(cè)量的經(jīng)驗(yàn)，HELMUT FISCHER公司不斷在基本原理上開(kāi)發(fā)出創(chuàng)新的測(cè)量技術(shù)來(lái)解決一些新的檢測(cè)要求。為了不斷完善客戶的要求， fischer 公司推新立異，在測(cè)量膜厚方面，采用最新的FP數(shù)字計(jì)算方法，使測(cè)量數(shù)據(jù)更精確。

深圳膜厚儀/fischer膜厚儀/進(jìn)口膜厚儀在技術(shù)上一直以來(lái)都領(lǐng)先于全世界的測(cè)厚行業(yè),X-射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x能夠測(cè)量包含原子序號(hào)17至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。
A：區(qū)別材料并定性或定量測(cè)量合金材料的成份百分含量可同時(shí)測(cè)定最多4層及24種元素。
B ：精確度領(lǐng)先于世界，精確到0.025mil
C ：數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式，以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求,如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。
D ：統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。能夠測(cè)量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E ：可測(cè)量任一測(cè)量點(diǎn)，最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米

深圳膜厚儀/fischer膜厚儀/進(jìn)口膜厚儀主要應(yīng)用方面：
由于可測(cè)量的元素范圍拓闊至從鋁至鈾，X射線的應(yīng)用范圍從工業(yè)應(yīng)用伸展到科學(xué)應(yīng)用。它可應(yīng)用于治金學(xué)、地質(zhì)學(xué)、鑒證學(xué)或自然科學(xué)等，在工業(yè)方面，廣泛用于五金電鍍、電子半導(dǎo)體、PCB線路、首飾珠寶、衛(wèi)浴、汽配的成份分析和鍍層測(cè)量方面。