注：NI 2004全國(guó)有獎(jiǎng)?wù)魑拇筚惈@獎(jiǎng)文章
作者：楊 彪
工作職務(wù)：研究
單位名稱(chēng)：華中科技大學(xué)電子科學(xué)與技術(shù)系

應(yīng)用領(lǐng)域：
半導(dǎo)體、工業(yè)自動(dòng)化


使用產(chǎn)品：
LabVIEW 7.0、IMAQ Vision、IMAQ Vision Assistant、PXI-1409、MBC-5051等


挑戰(zhàn)：
構(gòu)建IC芯片表面標(biāo)識(shí)自動(dòng)識(shí)別系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片表面英文字母、數(shù)字以及廠商圖標(biāo)的識(shí)別


應(yīng)用方案：
使用NI公司LabVIEW、IMAQ Vision、IMAQ Vision Assistant等軟件配合PXI-1409圖像采集、MBC-5051 CCD黑白相機(jī)等圖像采集硬件構(gòu)建IC芯片表面標(biāo)識(shí)自動(dòng)識(shí)別系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)對(duì)英文字母、數(shù)字以及廠商圖標(biāo)的識(shí)別


介紹：
芯片表面標(biāo)記自動(dòng)識(shí)別技術(shù)是芯片制造技術(shù)不斷高速發(fā)展的要求，其中芯片表面標(biāo)識(shí)主要包括廠商圖標(biāo)、序列號(hào)（包括英文字母及數(shù)字）等。由于自動(dòng)識(shí)別技術(shù)具有極其重要的意義，一直以來(lái)，人們都對(duì)該技術(shù)的研究投入了大量的人力物力，并取得了卓有成效的進(jìn)展。它可以應(yīng)用于芯片性能自動(dòng)檢測(cè)領(lǐng)域，提高芯片測(cè)試效率，進(jìn)而提高廠商的生產(chǎn)能力，具有十分廣闊的應(yīng)用前景。
本系統(tǒng)使用NI的視覺(jué)系統(tǒng)開(kāi)發(fā)工具構(gòu)建，因而具有開(kāi)發(fā)周期短、成本低等特點(diǎn)。系統(tǒng)綜合運(yùn)用了銳化、濾波、細(xì)化、特征識(shí)別等多種圖像處理技術(shù)，成功地實(shí)現(xiàn)了從芯片自動(dòng)跟蹤定位、圖像采集到圖像預(yù)處理、骨架提取以及識(shí)別等一系列功能。

Abstract
With the incessant development of the chip manufacturing technology, developing the auto-recognizing system of the chip surface’s mark which mainly contains licenses and so on becomes more and more important. As this technique is of great importance, a lot of energy has been put into it and many achievements have been gained. This system can be used in the filed of the automation of the chip testing, so it can increase the throughput of the chip manufacturer.
Thanks to the using of the LabVIEW software and its IMAQ Vision image processing modules, the system’s exploit period is very short and its cost is especially cheap. With the comprehensive utilization of several kinds of technology, such as the threshold, filtering, arithmetic/logical operation, cutting, thinning, feature matching and so on, this system can bring all the expected functions to success in practical application.



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