作者：
莊嘉明—致茂電子PXI系統(tǒng)事業(yè)部總經(jīng)理
Michael Lauterbach—LeCroy
Ray Dellecker—JTAG Technologies
Gunnar Heinisch—National Instruments
Kevin Hoover—Virginia Panel

前言
現(xiàn)在，測(cè)試工程師面臨許多的挑戰(zhàn)。這些挑戰(zhàn)中最突出的問題是要用更少的資源來滿足日益增加的測(cè)試要求。最重要的要求包括匹配產(chǎn)品測(cè)試規(guī)格、降低測(cè)試費(fèi)用、快速開發(fā)測(cè)試系統(tǒng)、提高生產(chǎn)能力和測(cè)試的可靠性、以及縮小測(cè)試系統(tǒng)所占用的空間。然而，為你的測(cè)試系統(tǒng)選擇一個(gè)合適的開發(fā)平臺(tái)并不是一個(gè)容易的決定。市場(chǎng)上可供選擇的平臺(tái)和配置非常多。對(duì)于一位無法完全掌握他的應(yīng)用需求的工程師而言，這是一個(gè)非常困難的問題。并且以前的客戶在測(cè)試平臺(tái)和自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)（ATE）產(chǎn)品上都沒有太多的選擇。

很久以來，自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)都是為特定的應(yīng)用，采用專門的硬件和軟件，花幾個(gè)月的時(shí)間來開發(fā)和搭建的。盡管這種做法存在成本高、擴(kuò)展性差和特定應(yīng)用限制等缺點(diǎn)，但是目前仍然有許多應(yīng)用是使用專用的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)來完成產(chǎn)品測(cè)試的。

然而隨著科技的不斷進(jìn)步，商業(yè)化的技術(shù)已經(jīng)趕上甚至超過了專用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的性能。功能齊全的硬件和軟件架構(gòu)可以實(shí)現(xiàn)從設(shè)計(jì)驗(yàn)證試驗(yàn)到高度自動(dòng)化生產(chǎn)的應(yīng)用，這已不再是以前昂貴的專用系統(tǒng)所獨(dú)占的領(lǐng)域。就象是計(jì)算機(jī)的演化，從早期的整個(gè)房間的龐大體積逐漸縮小，運(yùn)算能力也不斷增強(qiáng)。高度發(fā)展的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)也已經(jīng)發(fā)展到桌面的應(yīng)用，無論是性能、價(jià)格和靈活性都已被大多數(shù)的工程師所接受，并已經(jīng)廣泛的應(yīng)用于研究、設(shè)計(jì)和制造。

PXI（PCI eXtensions for Instrumentation）規(guī)格于1998年正式制定。PXI采用最先進(jìn)的商業(yè)化的硬件和軟件技術(shù)，以及自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的概念和技術(shù)，為高性能的測(cè)量提供了精確的定時(shí)和觸發(fā)。通過采用這些商業(yè)化的PC和數(shù)字化技術(shù)，PXI能夠以較低的成本為用戶提供專用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的高性能。

PXI測(cè)試平臺(tái)具有完整的硬件和軟件相容規(guī)范，可以滿足絕大多數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的要求。開放的PXI規(guī)范使得可以組成模塊化的測(cè)試系統(tǒng)，它可以容易的整合多個(gè)廠家的測(cè)試系統(tǒng)。PXI規(guī)范也能把不同平臺(tái)的儀器輕易的集成到PXI的測(cè)試系統(tǒng)中。

PXI產(chǎn)品可以提供自動(dòng)測(cè)試領(lǐng)域內(nèi)所需要的各種功能，包括控制PC、信號(hào)發(fā)生器、切換開關(guān)、數(shù)字化儀、邊緣掃描技術(shù)（boundary-scan）、電源和大量的連接裝置。接下來我們將對(duì)各個(gè)部件及PXI產(chǎn)品的優(yōu)點(diǎn)進(jìn)行更進(jìn)一步的說明。想要了解更詳細(xì)的PXI規(guī)范以及完整的PXI廠商資料，可以瀏覽www.pxisa.org。


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