構(gòu)造一種具有在線測(cè)試與功能測(cè)試的高速測(cè)試系統(tǒng), 要求電阻測(cè)試精度高于常規(guī)ICT一個(gè)數(shù)量級(jí),功能測(cè)試適應(yīng)多品種, 快速切換被測(cè)產(chǎn)品以滿足多品種大批量生產(chǎn)的需要。

使用的產(chǎn)品:
SCXI-1000; SCXI-1160; PCI-DIO-24; PCI-MIO-16E-1; AT-MIO-16E-1; PCI-4060; LabVIEW5.0/5.1; Application Builder for LabVIEW

摘要:
一種采用National Instruments 的LabVIEW 和DAQ板集成的多功能測(cè)試系統(tǒng), 其設(shè)計(jì)思想是基于解決SLIC電路(用戶接口電路)測(cè)試的基礎(chǔ)上盡可能兼容其它電路的測(cè)試, 如常規(guī)音頻放大器、脈沖電路、混合電路模塊、阻容網(wǎng)絡(luò)等等. 經(jīng)過(guò)兩年多的開發(fā)和不斷改進(jìn),該系統(tǒng)已成為集在線測(cè)試與功能測(cè)試為一體、功能強(qiáng)大的工業(yè)化生產(chǎn)設(shè)備. 現(xiàn)已有超過(guò)50個(gè)以上的厚膜電路產(chǎn)品可容易地用該系統(tǒng)進(jìn)行生產(chǎn)測(cè)試。

位于深圳市高新技術(shù)工業(yè)圓區(qū)的深圳市振華微電子有限公司是一家生產(chǎn)混合集成電路為主的高技術(shù)企業(yè)，年生產(chǎn)能力1500萬(wàn)塊。該行業(yè)的特點(diǎn)是產(chǎn)品品種多、開發(fā)周期短、在短時(shí)間內(nèi)產(chǎn)品將從樣品轉(zhuǎn)為大批量生產(chǎn)。對(duì)測(cè)試方法、測(cè)試系統(tǒng)的軟硬件的兼容性、可持續(xù)開發(fā)性、易維護(hù)管理性提出了挑戰(zhàn)。

我公司于1992年就開發(fā)了基于PC機(jī)和單片機(jī)的混合電路測(cè)試系統(tǒng)。但功能簡(jiǎn)單，測(cè)試精度低，速度慢，雖對(duì)公司產(chǎn)品開發(fā)、生產(chǎn)發(fā)揮了極重要的作用，但不能適應(yīng)用戶越來(lái)越高的產(chǎn)品品質(zhì)要求。我們也曾經(jīng)購(gòu)買了國(guó)內(nèi)外的多套測(cè)試系統(tǒng)，由于存在速度低、可靠性、可維護(hù)性、可持續(xù)開發(fā)性差等問題。使得我們不斷去尋找新的技術(shù)解決存在的問題。LabVIEW 及其技術(shù)在中國(guó)的推廣為我們這些問題提供了強(qiáng)有力的支持。1998 年初我們開始購(gòu)買LabVIEW 和DAQ 板，投入了較強(qiáng)的力量并結(jié)合已有的技術(shù)基礎(chǔ)于1998年5月構(gòu)造了第一臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)樣機(jī)，于1998年11月開發(fā)成功了5臺(tái)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)并擔(dān)負(fù)了公司80%產(chǎn)品的生產(chǎn)測(cè)試。1999年6月開發(fā)了5臺(tái)功能強(qiáng)大的T2000型多功能測(cè)試系統(tǒng)，之后，又將1998年開發(fā)的全部進(jìn)行升級(jí)改造 ,共制造了10臺(tái)多功能測(cè)試系統(tǒng)。兩年來(lái)T2000的軟件在不斷完善，硬件的投
資得到充分的利用。到目前為止，我公司95%的產(chǎn)品用T2000測(cè)試，累計(jì)測(cè)試產(chǎn)品超過(guò)2000萬(wàn)片次。NI的DAQ硬件無(wú)一次故障。下面將進(jìn)一步介紹系統(tǒng)的設(shè)計(jì)、實(shí)現(xiàn)的功能及效益分析。